酸化膜・金属膜厚測定機 連続電気化学還元法 QC-100
銅酸化膜・スズ（錫）酸化膜・銀硫化膜の測定が可能 連続電気化学還元法 「SERA法」のご紹介です。 ワイヤ測定はQC-200
酸化膜・金属膜厚測定機 QC-100 ボンディングワイヤの銅ワイヤ・銀ワイヤ測定はQC-200が対応 連続電気化学還元法 「SERA法」のご紹介です。 株式会社サーマプレシジョンは、プリント基板を始めとして、半導体・ＬＣＤ・ＰＤＰ等主要電子部品の製造装置、検査分析装置の販売を通して日本国内の電子部品メーカー様へ最先端の技術を提供しております。 【酸化膜測定可能金属】 [酸化膜測定について] ○銅：Cu2O CuO Cu2S ○錫：SnO SnO2 ○銀：Ag2O AgCl Ag2SO4 Ag2S 〇上記以外（アルミ等々）についてはご相談ください 各種Å（オングストローム）単位で測定します 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本情報
【金属膜厚測定可能金属】 [金属膜厚測定について] ○金：Min40Å（0.004μm）～ ○銅：Min200Å（0.020μm）～ ○ニッケル：Min200Å（0.020μm）～ ○銀：Min200Å（0.020μm）～ ○錫：Min200Å（0.020μm）～ 【その他】 〇アルミニウム酸化膜他についてはパラメータ開発中 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
価格情報
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納期
型番・ブランド名
QC-100・QC-200
用途／実績例
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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この製品に関するニュース（1）
取り扱い会社
プリント基板を始めとして、半導体・ＬＣＤ・ＰＤＰ等主要電子部品の製造装置、検査分析装置の販売を通して日本国内の電子部品メーカー様へ最先端の技術を提供しております。業態は商社ながら「技術を語れる商社」として長年のレジスト塗布経験を活かし、様々な顧客に最適なソリューションをご提供し、これからも日本の電子部品産業に貢献して参ります。
