PIC(光集積回路)テストソリューション
測定したい光集積回路をカスタマイズ！当社のテストソリューションをご紹介
当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供いたします。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を 都度カスタマイズしてご利用いただけます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、 コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■光集積回路(PIC)の特性テスト(IL、RL、PDL) ■スペクトル分析(波長、光パワー、OSNR等) ■機能テスト(BERT、アイダイアグラム測定等) ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
