コンデンサ、抵抗など電子部品の表裏キズ検査に！両面顕微鏡システム
電子部品・プリント基板の表裏を同時に観察できる低倍率広視野顕微鏡。キズ検査やアライメントマークの位置ずれ測定に好適！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
基本情報
※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
広視野リング照明付き両面顕微鏡システム『TOMOS-50R1』
用途／実績例
【用途】 ■表裏同時観察 ・コンデンサ、抵抗などの電子部品やレンズ、コネクタなどの表裏キズ検査 ■表裏位置ずれ計測 ・プリント基板、印刷物のアライメントマーク、LEDチップなどの表裏位置ずれ検査 ※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
