両面顕微鏡システム
両面顕微鏡システム
当社の「両面顕微鏡システム」をご紹介いたします。
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プリント基板の表裏位置ずれ検査に！照明付き両面顕微鏡システム
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
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レンズ・コネクタなどの表裏キズ検査に！照明付き両面顕微鏡システム
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
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コンデンサ、抵抗など電子部品の表裏キズ検査に！両面顕微鏡システム
電子部品・プリント基板の表裏を同時に観察できる低倍率広視野顕微鏡。キズ検査やアライメントマークの位置ずれ測定に好適！
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広視野リング照明付き両面顕微鏡システム『TOMOS-50R1』
撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能！(視野9mm x 7mm）
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6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム
電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載！
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8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム
±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定します！
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顕微鏡用高感度カメラセット『FR-400』
専用の計測ソフトウェア付き！顕微鏡メーカー問わず後付けが可能です
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両面顕微鏡システム『TOMOS-80XY』
8インチ電動XYステージとオートフォーカス機能を搭載！正確に移動制御し測定エラーを防止
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両面顕微鏡システム『TOMOS-60XY』
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
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両面顕微鏡システム『TOMOS-50』
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました
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