プリント基板の表裏位置ずれ検査に！照明付き両面顕微鏡システム
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
基本情報
※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
広視野リング照明付き両面顕微鏡システム『TOMOS-50R1』
用途／実績例
【用途】 ■表裏同時観察 ・コンデンサ、抵抗などの電子部品やレンズ、コネクタなどの表裏キズ検査 ■表裏位置ずれ計測 ・プリント基板、印刷物のアライメントマーク、LEDチップなどの表裏位置ずれ検査 ※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
