【表裏同時観察・位置ずれ計測に】両面顕微鏡システム TOMOS
電子ペーパーやMEMSの観察・位置ずれ・寸法計測を一台で実現。両面同時観察と自動計測で、測定の効率と精度を大幅に向上。
当社のTOMOSシリーズ は、電子ペーパー、MEMS、水晶振動子、半導体線幅パターンなどの 精密デバイスを対象に、表裏同時観察・計測を実現する両面顕微鏡システムです。 落射・透過照明対応で粒子・流体・フィルターなど両面同時観察の可能で、 位置ずれ・寸法計測も自動化し高精度・効率化を実現します。 TOMOSシリーズは用途に応じた複数モデルをラインナップしており、観察・計測の目的や対象に最善な選択が可能です。 研究・解析・製造・検査の現場で、高精度・高再現性・効率化を追求する方に好適なソリューションです。 【ダウンロードカタログ内容】 ■コンパクトタイプ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-50 ■6インチステージ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-60 ■リング照明付き低倍率両面顕微鏡システム TOMOS-50R1 ■6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-60XY ■8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-80XY ■高速オートフォーカスユニット Mimic II-AF/CL ■高感度近赤外線カメラ FS-1700IRP
基本情報
※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
■TOMOS-50、TOMOS-60、TOMOS-60XY、TOMOS-80XYの用途 【観察】 電子ペーパーの電気泳動、粒子、流体、フィルターなどの表裏同時観察 ・落射、透過、落射＋透過照明で撮影が可能 ・両面同時観察、画像ファイリング、動画記録 【表裏位置ずれ計測】 インクジェットノズル、水晶振動子、ＭＥＭＳなどの表裏位置ずれ計測 ・表裏カメラ座標を校正し、位置ずれ計測 ・測定個人差の無い自動計測が可能 【表裏寸法計測】 水晶振動子、半導体線幅パターンなどの表裏寸法計測 ・両面同時に寸法計測 ・測定個人差の無い自動計測が可能 ■両面顕微鏡計測(TOMOS)の用途 【表裏同時観察】 コンデンサ、抵抗などの電子部品やレンズ、コネクタなどの表裏キズ検査 【表裏位置ずれ計測】 プリント基板、印刷物のアライメントマーク、LEDチップ、レンズ、光通信部品などの表裏位置ずれ検査 ※詳しくはカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
