【計測システム事例】センサー検査システム
システム全体をご提供することが可能！たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作
半導体・センサーメーカー様へ、センサー検査システムについてのご提案を 行った事例をご紹介します。 新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい、テスティング 工数の削減のため、一度にたくさんのICのテスティングを行えるように してほしいとのご要望がありました。 そこで、FPGAを搭載したテスティングシステムをご提案。FPGAを利用して たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作し納品いたしました。 テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけました。 【事例概要】 ■ご要望：新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい ■ご提案：FPGAを搭載したテスティングシステム ■結果 ・FPGAを利用してたくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作 ・テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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価格帯
納期
用途／実績例
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