2次元複屈折評価システム『PA/WPAシリーズ』
透明体の位相差、複屈折、内部歪みを簡単・高速に測定！多彩な解析が可能
当社では、光学材料の品質向上と機能向上に貢献する、 2次元複屈折評価システム『PA/WPAシリーズ』を取り扱っていおります。 「WPAシリーズ」は、大きな位相差の面分布測定を可能にします。 「PAシリーズ」は、低歪みの測定対象を高精細に測定することが可能。 また、可視光で不透過で近赤外光に透過特性を有する特殊窓ガラスや 樹脂カバーなどの、品質管理、プロセス開発に向いている「NIRシリーズ」 もございます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■WPA-300 ■WPA-micro ■PA-300 ■PA-300-XL ■PA-300-NIR/WPA-200-NIR ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【オプション(抜粋)】 ■様々なオプションレンズ ■データ処理機能 ■3水準位相差板/顕微鏡用位相差板 ■広視野補正機能(フィルム用/ウェハ用) ■光弾性係数計測オプション ■PA・WPA-L用遮光カバー(標準タイプ、Lタイプ) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
株式会社フォトニックラティス 製
用途／実績例
【測定事例】 ■レンズ ■ガラス ■樹脂成形品 ■フィルム ■ウェハ ■有機高分子 ■セルロースナノファイバー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
