極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』
多様なサンプルに対応!温度制御可能範囲300K~4.2Kの極低温電気抵抗測定装置!
多様なサンプルに対応しており、最大□10mmのサンプルを計測可能。 多段式輻射シールド及び三段式真空容器構造によりサンプル交換が容易です。 スイッチ一つで室温から極低温まで、温度制御できます。(温度調整には 温度センサー及び温度コントローラ〔オプション〕が必要になります。) 【仕様(抜粋)】 ■温度可変サンプルステージ:□10mm 無酸素銅ステージ ネジ型8系統端子台 ■冷却機構(空冷式2段式クライオスタッド) ・1段ステージ:3.0W @60K ・2段ステージ:0.1W @4.2K ■温度制御可能範囲:300K~4.2K ■真空容器:三段式真空容器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他の仕様】 ■輻射シールド:多段式輻射シールド ■導入端子 ・デバイス計測BNC端子(50Ω)8系統 ・温度センサー導入端子 2系統 ■支持架台:アジャスタ/キャスタ付き支持架台 ■外形寸法:W540×D420×H568m 重量約50kg ■ユーティリティー:所要電力 φ1 AC100V/20A D種アース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
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