日本製｜SWIRエリアカメラ WAA-1300-GE-TEC
TEC冷却内蔵で安定した高感度撮像。400〜1700 nm対応の可視光+SWIR産業用エリアスキャンカメラ
『WAA-1300-GE-TEC』は、400〜1700 nmの広帯域（可視光+SWIR）に対応したInGaAs産業用エリアスキャンカメラです。 ペルチェ冷却（TEC）システムを内蔵し、ダークノイズを最小限に抑えながら長時間にわたる安定した高感度撮像を実現。 通常の可視光カメラでは識別が困難な素材の組成・水分含有量・内部欠陥を高コントラストで可視化します。 130万画素（1280 × 1024）・最大90 fps・GigE Visionインターフェースを採用し、高速な産業検査にも対応します。 【特長】 ■ 可視光からSWIRまで400〜1700 nmの広帯域に対応するInGaAsエリアスキャンカメラ ■ ペルチェ冷却（TEC）内蔵でダークノイズを低減し、長時間安定稼働を実現 ■ 1.3MP（1280 × 1024）・最大90 fps・グローバルシャッタ採用 ■ ROI機能・ビニング機能で柔軟な撮像設定が可能 ■ GigE Visionインターフェースで標準ネットワーク環境への容易な組み込みを実現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。
基本情報
■主な仕様 ・解像度：1.3 MP（1280 × 1024ピクセル） ・フレームレート：最大90 fps ・インターフェース：GigE Vision ・対応波長：可視光+SWIR（400〜1700 nm） ・センサ：InGaAs（IMX990） ・画素サイズ：5.0 × 5.0 μm
価格情報
※詳細はお気軽にお問い合わせください。
納期
型番・ブランド名
Wave Series
用途／実績例
■ 食品の選別・品質管理 ・内部品質の非破壊検出：可視光+SWIRイメージングで打撲傷・水分量のばらつき・熟度・初期腐敗を検出。外観だけでは判断できない農産物の品質を自動識別。 ■ 半導体製造・検査 ・アライメントマークの可視化：SWIR光がシリコンを透過する特性を活用し、シリコン層の下のアライメントマークを非破壊で検出。製造工程での精密な位置合わせに貢献。 ■ プラスチック包装検査 ・ヒートシール検査：透明・半透明パッケージのコントラストをSWIR帯域で向上させ、ヒートシール部の欠陥や封緘不良を連続ライン上で確実に検出。 ■ レーザー計測 ・ビームプロファイリング：エリアスキャン+SWIR感度で高出力レーザーのビーム形状・強度分布・アライメントを精密に計測。可視光カメラでは困難な高出力レーザーの安全な評価も実現。 ■ リサイクル資源分別 ・素材識別：形状が大きく不規則な廃棄物でもSWIRで素材を判別。分別品質の検証や新しい分別基準導入時の事前評価にも活用可能。
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取り扱い会社
ジェイエイアイコーポレーション（JAI）は、マシンビジョン、輸送、食品・飲料、航空宇宙、医療、科学市場に向けた高品質な産業用カメラを製造する企業です。 製品は安心の日本国内製造であり、その高い信頼性と確かな品質で世界中のお客様から選ばれています。 ◾️幅広い製品展開： 最大45メガピクセルの高性能プログレッシブスキャンCMOSカメラを中心に、エリア／ラインスキャン対応の画期的なマルチセンサー・プリズムブロックカメラなどを豊富に取り揃えています。 ◾️多様なインターフェース： Camera Link、GigE Vision、CoaXPress、USB3 Vision等のデジタル規格に加え、SFP+光ファイバー伝送にも対応しています。 ◾️ビジネス発展の支援： コスト削減や歩留まり向上、サービス改善など、多角的なアプローチでお客様のビジネスの発展を強力に支援します。 ◾️特殊交通システム： トラフィックソリューショングループが事業を担う世界有数のメーカーとして、自社製ハード・ソフトウェアとサードパーティ製品を統合したソリューションを提供しています。