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SEMICON Japan 2026

SEMICON Japan 2026では、半導体の研究開発から製造までを支える計測・検査装置をご紹介します。 ■会期:2026年12月9日(水)~11日(金) ■会場:東京ビッグサイト ■小間番号:E2708 ■ご来場:事前来場登録制 ■出展予定品 ・ワイヤーグリッド偏光子/メタレンズ(Moxtek) ・非接触3D面粗さ計測装置 S mart(SENSOFAR) ・レーザー欠陥スキャナー Pr…

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