株式会社日本レーザー 公式サイト

SEMICON Japan 2026

株式会社日本レーザー

SEMICON Japan 2026では、半導体の研究開発から製造までを支える計測・検査装置をご紹介します。 ■会期：2026年12月9日（水）～11日（金） ■会場：東京ビッグサイト ■小間番号：E2708 ■ご来場：事前来場登録制 ■出展予定品 ・ワイヤーグリッド偏光子／メタレンズ（Moxtek） ・非接触3D面粗さ計測装置 S mart（SENSOFAR） ・レーザー欠陥スキャナー PrimaScan（Onto Innovation） ・300mm対応AFM-IR Vista300（Molecular Vista） ・AFM Nanoview 1000（FSM Precision） ・伝導性AFM Nano-Observer（CSInstruments） ・光実装用3Dプリンタ Quantum X align（Nanoscribe） ・ナノ位置決めステージ／変位センサ（attocube） ・超解像光学顕微鏡 NANORO M（LIG Nanowise） ・ウェハ歪み測定センサ※開発中（Fringe Metrology） ぜひお立ち寄りください。