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3軸ガルバノスキャナ
2次元のXY偏向ユニットにZ軸を追加し、3次元への加工に対応可能な3D偏向ユニット
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2軸ガルバノスキャナ
レーザービームを2次元で偏向および集光するXY偏向ユニットです
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超高安定性 二次元分光干渉計 GEMINI 2D
過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します
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超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定
NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力光で、類まれない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
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INCA 多重分光近接ビーコン
VIS/NIR/SWIR/MWIR/LWIRバンド対応、長距離で検出可能な高輝度マルチスペクトル光信号を提供します。
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高出力 小型 CW or パルス UVレーザー H-Model
波長375nmで最大１W,405nm最大4W, バイオケミカル分析、水質浄化、UV硬化、蛍光イメージング、光通信に好適
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中赤外 広帯域 波長可変ピコ秒レーザー
中赤外波長可変レーザーOPPO MIRは 2.8～4.2umの波長範囲で調整が可能なピコ秒パルスレーザーです。最大出力1W以上。
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TeraSchottky サブ・テラヘルツ発振器
高出力 ( <100mW ) 、最大600GHzの周波数拡張、小型
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高出力 テラヘルツ量子カスケードレーザー 最大光出力 7mW
Lytid社のTeraCascade2000は最大光出力7mWの高出力QCLレーザー。イメージングに最適で最大6周波数搭載可能。
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LuxX.HSA 小型半導体レーザー 高速アナログ変調
超高速のデジタル / アナログ変調が可能な半導体レーザー
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【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA＆QC
ナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大５ｍ作動距離。幅広い材質に対応。
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空冷アルゴンレーザー
長寿命でパワー安定性の高い内部ミラータイプ
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HeNeレーザー LGKシリーズ
システム・装置への組み込みに最適！国内外を問わず数多くの納入実績
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レーザー加工用 CW ファイバレーザー 300W~10kW
高性能＆ハイパワー300 W ～ 10kW。切削・溶接など加工機械への使用いただけます。また組込みが容易なレーザーです。
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パルスファイバレーザー TruPulse
MOPA方式採用。工業用途に最適な高い柔軟性＆高性能
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ハイブリッド・フォトマルチプライヤー検出器
高効率・高速・高分解能。様々なPicoQuant製品と柔軟にシステム統合
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高分解能型動的画像式粒度・形状分布測定装置 QICPIC
0.55～34,000μmサイズの粒子形状を高精度に解析
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小型Qスイッチ固体レーザー Q-switchedシリーズ
超コンパクト・高出力・高安定性・高信頼性～Crystalaser社のベストセラー製品
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蛍光寿命スペクトロメータ 時間分解・定常状態の両測定に対応
高性能TCSPCモジュールを搭載。ピコ秒分解能で測定。定常状態・時間分解の分光計測が可能。多彩な互換励起光源に対応。
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PCIボード TCSPC & MCSモジュール
最大2チャンネルのPCIボード型モジュール。ベース分解能 ナノ秒orピコ秒の2モデル展開
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静電容量変位センサ 非接触測定
接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能です。
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小型Qスイッチ・ナノ秒DPSSレーザー
基礎研究からOEMまで～ 213nm 超小型ナノ秒レーザー
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高出力ナノ秒パルス マイクロチップレーザー HiPoLas
超小型・高出力・高い耐環境性能～レーザー点火/着火、LIBS/LIPS用途に
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超伝導ナノワイヤー 単一光子検出器 SNSPD
独自のナノワイヤー構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用
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ハイエンド サーモグラフィ ImageIR
最高の感度・精度・空間分解能・速度～測定・検査向けに開発されたハイエンドカメラ
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小型CWレーザー Directシリーズ＆Crystalシリーズ
レーザー結晶と非線形光学結晶を組み合わせ、多彩な波長ラインナップを実現した、手の平サイズの小型レーザーです。
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多波長レーザー LightHUB optogenetics
半導体レーザー・DPSSレーザーを1つにまとめ1本のファイバーから出射できるようにしたオプトジェネティクス用多波長レーザーです。
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超音波顕微鏡 超高速スキャン 超音波映像装置
KSI社製の超音波顕微鏡 「V シリーズ」 超高速スキャンが半導体分野・電子部品・セラミック材料等において、威力を発揮します！
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ファイバーピコ秒レーザー LDH-FAシリーズ
小型、安定発振、使いやすさ抜群！
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縦シングルモード（狭線幅）DPSSレーザー
OEM対応可能。分光学､干渉計、共焦点・蛍光顕微鏡、バイオ分析研究、粒子計測、産業計測、ホログラフィー、科学教育分野で使用可能
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