PiFM／AFM-IR ナノ化学イメージングAFM
形状観察と同時に、ナノメートル分解能で化学組成を可視化するPiFM方式AFM
光誘起力（PiFM）方式を採用したAFM-IR装置シリーズです。探針とサンプルの間に働く光誘起力を検出することで、FTIRやナノFTIRを上回る空間分解能でのケミカルマッピングと点スペクトル取得を実現しました。 ・単分子レベルの表面感度を持ち、有機・無機を問わず材料の化学組成を可視化 ・非接触・非破壊で測定するため、サンプルとチップの両方をクリーンな状態に保てる ・既存のFTIRスペクトルとの照合により、取得したスペクトルから材料を同定可能 ・サンプル交換後も光学アライメントを維持できる設計 ・半導体、ポリマー、無機材料、ナノフォトニクスなど幅広い分野に対応 ・設置スペース・サンプルサイズ・自動化レベルの異なる複数モデルから選択可能 用途や設置環境に応じて、最適な構成をご提案します。
基本情報
・共通方式：PiFM（光誘起力顕微鏡） ・対応レーザー波数域：590〜2050／2250〜4400cm⁻¹ または 770〜1820cm⁻¹ ・Vista 200／300共通：デュアルZフィードバック（12µm Zスキャナ＋600nm高速スキャナ） ・対応モード：非接触AFM、PiFM、KPFM、cAFM、nano DMA、FvDマッピング
価格帯
納期
型番・ブランド名
Vista One・Vista 75・Vista 200・Vista 300（Molecular Vista社）
用途／実績例
・半導体：ウエハ／フォトマスク上のナノ異物・欠陥のIR同定（Vista 200・300） ・ポリマー：多層フィルムや共重合体の界面化学分析（食品包装フィルムの層構造解析など） ・無機材料：ナノ構造体表面の化学分析、他分光法との複合評価 ・ナノフォトニクス：プラズモニックナノ構造上の近接場光分布の分光・イメージング ・木質・生体材料：リグニン・セルロースなど天然材料のケミカルマッピング ・量産環境：Vista 300のAutoPiFMにより、熟練者に依存しないルーチン測定・故障解析が可能 半導体・材料メーカーの研究開発から品質解析まで、幅広い現場での活用が見込めます。
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ラインアップ（4）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| Vista One | ステージ移動6mm、Z走査範囲12µm、位置精度約100pm RMS、最大6レーザー搭載可 |
| Vista 75 | ステージ移動範囲75mm、IR空間分解能サブ5nm |
| Vista 200 | ステージ移動200mm×200mm角、走査サイズ120×120µm、IR深さ方向：表面20nm／バルク100nm超 |
| Vista 300 | ステージ移動300mm×300mm角、走査サイズ90×90µm、最大2レーザー搭載でスペクトル全域をカバー |
カタログ（1）
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取り扱い会社
日本レーザーは1968年の創業より、レーザー専門商社の草分けとして、お客様に支えられながら、レーザー技術の進歩と共に歩んで来た日本で最古・最大のレーザー及び光関連製品の専門企業です。 従業員数の1割強をエンジニアに割いており、技術色の強みを持つ商社です。 米・英・独・仏・スイス・デンマーク・リトアニアなど世界各国の優れたレーザー製品、光関連製品を提供いたしております。各国のトップクラスのメーカーと代理店契約を締結しており、現在の海外取引先数は約50社になります。また当社は、世界より集めたレーザー関連機器を独自に組み上げ、応用システムとして販売提供が可能です。商社でありながらファブレスメーカー的なサービスも提供可能です。お客様の要求に感謝の気持ちを持って、常に柔軟でアグレッシブなソリューションを提供してまいります。