X線光電子分光分析『XPS』
極表面の構成元素および化学結合状態を分析する手法をご紹介！
『XPS』は、軟X線を試料表面に照射することで放出される 光電子のスペクトルを解析する手法です。 極表面(数nm程度)の構成元素および化学結合状態の分析が可能です。 当社では、高速イオン銃や全反射測定用の高精度ステージなどを 装備しており、幅広い試料への応用が実現できます。 【主な応用範囲】 ■材料表面近傍の深さ方向評価 ■材料表面の腐食、変色、酸化などの調査 ■各種未知化合物の化学結合状態の推定 ■半導体表面などの汚染物質調査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【分析可能な試料】 ■金属、セラミックス、樹脂などの固体試料 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
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