ショート・オープン テストユニット『FX-210/210L』
メカI/Fを標準装備！USB上での機器操作をはじめ、操作パネル感覚で本体の制御が可能
『FX-210/210L』は、全総当たりテストを独自のアルゴリズムでテストし、 全てのピン間データを自動吸い上げ、比較方式により自動で安定した判定が 可能なショート・オープン テストユニットです。 5インチベイに納まる超コンパクトサイズ。計測器用の基板技術のノウハウを 生かし、このサイズで128ピンを標準装備とする事を可能にしました。 今後、協立テストシステムではお客様からのリクエストにより続々と 新しいラインアップを計画しております。多様なテストに対応可能な フォーカスシリーズ・ファンクションテスターでの接続ができます。 【特長】 ■全ピン総当たりテスト ■超高速テスト ■半導体スイッチ採用 ■超コンパクトサイズ ■Windows PC制御ソフト ■外部機器との接続 ■プログラマブル判定値 ■128ピン単位で増設拡張 ■将来性の高い拡張性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他の特長】 ■PC制御用ソフトを標準装備 ■USB上での機器操作をはじめ、操作パネル感覚で本体の制御が可能 ■シーケンサとの接続他機器からのスタート・結果等の入出力が容易 ■外部プリンターも用意 ■ICTで得た技術を用い、新開発のハードウエアーによるショート・オープン テストシステムにより更なる高速テストを実現 ■ON・OFFの切り替えを繰り返す、MPX部のスイッチに寿命を持たない 半導体スイッチを用いることによりメインテナンスコストを意識させない ■静電気等をためない為、被測定基板にストレスを与えない ■実装基板上におけるショートオープンテストの実績からしきい値を3つ持つ事により、 安定した測定が可能（これらの設定は1Ω～1KΩ内で設定が可能） ■標準サイズで128ピンに標準で対応 ■Mサイズケースの使用で512ピンまで増設が可能 （それ以上のピン数についてもご相談いただければ、対応） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■半導体基板検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
