Product: Semiconductor substrate inspection

Product: Semiconductor substrate inspection
This is a list of product catalogs related to semiconductor substrate inspection, including network circuit testers.
1~13 item / All 13 items
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FXコントローラユニット『FX-100』
マクロワイヤによりプログラムを作成!USBやIOを経由して複数のFX計測ユニットを制御!
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ショート・オープン テストユニット『FX-210/210L』
メカI/Fを標準装備!USB上での機器操作をはじめ、操作パネル感覚で本体の制御が可能
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デジタルマルチメータユニット『FX-300』
測定から判定までを単独で完結!USBケーブルでPCと簡単接続が可能なユニット
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デジタルオシロスコープユニット『FX-320』
15種類の波形パラメーターの計算、Go/NGの自動判定!軽量でコンパクトな2CHオシロスコープ
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デジタルI/O『FX-500/510』
重要なデータのセキュリティの設定が可能!マルチランゲージ対応のデジタルI/Oユニット類
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リレーユニット『FX-600/610』
ファンクション検査に欠かせない各種I/Oを豊富ご用意!マルチプレクサスイッチ類のご紹介
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マルチファンクションユニット『FX-700』
自己診断機能により、本体状況が、常にチェック可能!多機能な高速周波数カウンタ
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ワンショット画像チェッカー『Focus-6000IA』
当社独自の発想で大幅なコスト削減を実現!導入しやすく、ハッキリした効果が出せる外観検査器
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卓上型外観計測検査機『Focus-5500DT』
品質総合管理が更に高速化!計測アルゴリズムの充実により、幅広い基板の検査が可能
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電子基板外観計測検査機『Focus-5000GX』
これまでの外観検査(AOI)から次世代の外観計測(AOM)へ!基板部品をLED多方向照明の多重画像で判定
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インサーキットテスター『Focus-3000 Mini Box』
128ピン/枚のマルチプレクサボードを増設する事で、最大1,024ピンまで拡張可能!
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ネットワークインサーキットテスタ『Focus2000』
検査速度の向上!Windows2000によるアプリケーションの拡張性
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ネットワークインサーキットテスタ『Focus FXシリーズ』
充実した製品ラインと、更なる新ユニット計画!多様な使用形態への容易な展開を実現
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