モニタードバーンインシステム SoCの評価から量産ラインまで
SoCの評価から量産ラインまで、適したバーンインシステムソリューション！
『モニタードバーンインシステム』は、ATEとテスト内容を適切に シェアすることにより、テストコストをトータルで削減できるなど、 スケーラビリティーの高いバーンインシステムです。 数多くの実績から受け継いだユーザーインタフェースは、各種メモリと ロジックに対して必要なテストパターンを容易に作成でき、高い生産性をご提供。 またパターンジェネレータ・ドライバ・チャンバーはそれぞれモジュール化 しており、信頼性試験からスクリーニングまで、幅広く適したテスト環境に 対応します。 【特長】 ■幅広い用途に対応 ■パターンジェネレータは、フラッシュメモリや各種DRAMと ロジックの試験が可能なパターンを発生することができる ■ドライバの出力信号を自由に切り替えられる、 ピンスクランブル機能を搭載 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【その他の特長】 ■信号電圧は、VH1とVH2の2つの電圧を同時に印加することができる ■ベクタエディタで、BIST・JTAG(IEEE1449)・バウンダリースキャンなど、多彩なテストパターンの作成ができる ■システムは最大8台まで集中監視することが可能で、バーンイン工程やテストパターンのトータル管理が可能 ■バーンインボードの自動挿入・抜去や、自動スライド扉により省力化が可能 ■システム付属のタッチパネルで、テストパターンの選択やテスト条件の設定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
エスペック
用途／実績例
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