光の散乱
回折・屈折・反射
当社の粒子径分布測定器に関連した光の基礎理論を大きく分けると 「散乱」「回折」「干渉」「屈折と反射」「吸収」があります。 日機装の取り扱っている粒子径分布測定装置は、光の散乱現象を応用して、 散乱光の強度と粒子の大きさとの関係から粒子径分布を測定する装置です。 各々の装置の特長については後で説明する原理の部分にゆずり、ここではまず 一般的な”散乱”という現象について説明します。 光の散乱というと、ある物質に光を当てた時に直進する光以外のすべてのものを 含んでいわれる事があります。 つまり、「回折」「屈折」「反射」の3つの現象の複合した結果となります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【散乱を説明する理論】 ■粒子の大きさ D＞＞波長λ 幾何学的散乱 ■粒子の大きさ D?波長λ ミーの散乱 ■粒子の大きさ D＜波長λ レイリーの散乱 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
型番・ブランド名
MICROTRAC(マイクロトラック)
用途／実績例
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（4）
カタログをまとめてダウンロード
おすすめ製品
取り扱い会社
マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。