ミーの散乱(Mie scattering)
レーザ回折・散乱式装置の拠り所
G.Mieは1908年に、均一媒質内に存在し、任意な直径を持ち、任意材質の 均一な球による平面単色波の回折を、電磁気学によって取り扱い、厳密な 解を得ることに成功しました。 この散乱現象が私たちに取っては非常に大事な散乱となります。 ミー散乱が重要なのは、私たちが取り扱っている粒子径分布測定装置の 測定範囲のかなりの部分がこれに入っているからです。 しかしこのミーの散乱を数学的に解くには非常に難しい要素があります。 既にこのミーの式をコンピュータで解くプログラムも開発されていますが、 難しい事には変わりなく、この問題をいかにクリヤーするかが 粒子径分布測定装置メーカーのノウハウになります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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価格帯
納期
型番・ブランド名
MICROTRAC(マイクロトラック)
用途／実績例
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取り扱い会社
マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。