電子材料の粒子評価アプリケーション資料集（Wet系／Dry系）
電子材料に用いられるWet系（スラリー）およびDry系（乾粉）の試料を測定・解析した事例をまとめた資料進呈中
MICROTRAC製品は省エネ技術や再生可能エネルギー、製造プロセスの改善、 GHG排出削減といった技術開発に不可欠なツール。 半導体や導体、誘電体/絶縁体、磁性材料、超伝導体といったアプリケーションに ご利用いただくことが可能です。 【掲載内容(一部)】 ■高分子の分子量がCMPスラリーの安定性に及ぼす影響 ■サブミクロンオーダーのチタン酸バリウム微粒子の レーザ回折・散乱法による粒子径測定手法の検討 ■ナノオーダーのチタン酸バリウム微粒子の動的光散乱法による 粒子径測定手法の検討 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【その他の掲載内容(一部)】 ■サブミクロン領域のチタン酸バリウム微粒子のレーザ回折・散乱法 及び動的光散乱法による粒子径測定手法の検討 ■NANOTRAC WAVE II による導電性高分子(Clevios PEDOT/PSS)の 粒子径分布測定による分散性評価 ■アルミナ・シリカスラリーの分散性評価技術 ■pHタイトレーションによるコロイダルシリカの分散・凝集評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。