サブミクロン領域のチタン酸バリウム粒子径測定手法（2種類）
2つの手法により粒子径分布測定した結果に基づき、微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案！
情報通信機器の小型化、高性能化に伴い、電子材料等の微細化が積極的に 進められています。 代表的な電子粉体材料の一つで、積層セラミックコンデンサに利用されている チタン酸バリウムも、サブミクロンからナノ領域まで微粒化が進められており、 粉体材料の研究開発や品質管理において、微粒領域における粒子径の管理が 課題であり,なかでも適切な測定手法の選定が重要です。 そこで本トピックでは、微粒化したチタン酸バリウムをレーザ回折・散乱法 (Laser Diffraction method; LD)ならびに、動的光散乱法(Dynamic Light Scattering method; DLS)の2つの手法により粒子径分布測定した結果に基づき、 微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案します。 【掲載内容】 ■概要 ■実験 ■結果 ■まとめ ■評価装置 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。