導電性高分子の粒子径分布測定による分散性評価
動的光散乱式粒子径分布測定装置NANOTRAC WAVE IIにより評価した例をご紹介！
導電性高分子は、現代の日常生活で頻繁に利用しているタッチパネルの フィルムや、これまでの太陽電池では不可能であった、さまざまな場所への 設置が可能な「色素増感型太陽電池」、照明やディスプレイに使われる 「有機EL」などの家電製品に広く使用される機能性材料です。 ここでは、代表的な導電性高分子であるClevios PEDOT/PSSを動的光散乱式 粒子径分布測定装置NANOTRAC WAVE IIにより評価した例を示します。 【掲載内容】 ■概要 ■測定試料 ■測定結果 ■まとめ ■評価装置 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。