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【MSTホームページ】有機ELの分析特集 part2★TOF-SIMS分析新サービス公開

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MSTは、有機ELの開発を分析サービスで強力サポートいたします! 画素の高精細化に伴いパターンが微細化されてる有機ELパネルについて、積層された有機膜の各原料を推定する測定環境を整えました。 デバイス評価・劣化評価を通じて、MSTは皆様の研究開発に貢献いたします。 ★★★今回紹介の分析事例★★★ ・有機材料劣化成分の深さ方向分析  ~有機EL劣化層の成分評価~ ・ポリイミド成分の深さ方向分析  ~有機材料の表面改質層評価が可能です~ ・有機EL成分の深さ方向分析  ~微小画素領域での有機成分評価~  【新サービスです!】  TOF-SIMSの新スパッタ条件により、有機成分を壊さず  深さ方向分析が可能になりました。 ・有機EL材料の構造推定  ~Q-Tof型LC/MS/MSを用いた材料の構造推定事例~ *******************************************   詳しいデータはリンク先をご覧ください!! *******************************************

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【特集】有機ELの分析 part2
画素の高精細化に伴いパターンが微細化されてる有機ELパネルについて、積層された有機膜の各原料を推定する測定環境を整えました。
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