セラミックデバイス グリーンシート外観検査装置
高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現！低温同時焼成セラミックス用
基本情報
【検査項目】 ＜欠陥検査＞ ■セラミックス部 ・キズ ・異物 ・スクラッチ ・変色 ・汚れ ・シミ ■電極部 ・凹凸 ・パターン上異物 ・パターン太り ・パターン細り ・パターン断線 ・パターンショート ＜寸法検査＞ ・外形サイズ ・電極パターン位置度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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納期
用途／実績例
【用途】 ■LTCC（低温同時焼成セラミックス）用のグリーンシートに存在するシミ、異物付着といった 欠陥や印刷された電極パターンに存在する凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査 【対象ワーク】 ■積層コンデンサ用グリーンシート ■積層インダクタ用グリーンシート ■高周波デバイス用グリーンシート 等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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取り扱い会社
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