CHRocodile 2IT DW1000
アナログI出力付!CHRocodile 2IT DW1000をご紹介します。
基本情報
【ドープウェハー各種測定結果】 ■Dopped wafer ・P-(1-150Ω・cm) ・N-(1-200Ω・cm) ・P+(0.01-0.02Ω・cm) ・P++(0.005-0.01Ω・cm)980μmは除く ■Note:スラリーは測定時に光ピークのシグナル影響あり ■スラリー0.6mm~1.5mm厚みにおいて、215-545um(p++) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触センサ、光センサ、光学センサ、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、TTV、形状、外観、エッジ、斜面、計測、測定、検査、高速、高精度、インライン、モニタリング、In-Situ、加工中、加工前後、研磨、半導体、半導体ウエハ、ウエハ貼あわせ、Siウエハ、ドープウエハ、不純物ウエハ、GaAs, InP, SiC, LiNbO3(LN), LiTaO3(LT), GaN, SiP、Al2O3(サファイア)、透明、透明体、光沢、鏡面、簡単
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プレシテックは、レーザー材料加工および光学測定技術のスペシャリストです。 弊社は単なるシステムおよびコンポネントのサプライアーではなく 顧客の円滑な加工プロセスの専門的なパートナーです。 弊社は基礎段階からご相談に応じ、顧客と共に顧客の要望ならびに 目的を的確にコンサルトします。独自の加工プロセスでの成功の鍵が 展示、監視、加工処理、制御の4構成であることを把握しています。 これによって初めて、顧客の用途に適切なソリューションを提供することができるのです。 数十年来の経験からだけではなく、レーザー加工ヘッド、品質監視 システムならびに間隔/厚み測定用の光学的測定システム等の弊社 高品質製品から直接その利点を得ることができます。 光学センサーは最高級の精密性とダイナミックな適合性が特徴です。 さらに、高速測定でも正確な値を検出します