20個分のサンプルの同時試験が可能となるIOL試験、空冷パワーサイクル試験について紹介します。
株式会社クオルテック
小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、IOL試験専用試験設備を設置し、試験の受託を開始しました。 小型ディスクリート系の半導体パワーデバイスのパワーサイクル試験は、JEITA ED-4701/600で試験方法が規定されています。 また、米国の自動車部品規格AEC-Q101でも同様の試験がIOL試験（Intermittent Operational Life）として要求されています。 特に、IOL試験では多数のサンプルの試験を行う必要があり、従来の試験機では対応が困難でした。
