AFMによるnmオーダで試料表面の凹凸状態を計測することで、材料開発に役立てることができます。
株式会社クオルテック
【概要】 AFM（Atomic Force Microscope）は、nmオーダの針（プローブピン）を用いて試料表面の凹凸状態を計測することによって表面の粗さを測定することができます。 材料の表面をnmオーダで粗くすることによって、密着性を良くするなどの材料開発に役立てることができます。 【特長】 1. nmオーダで表面凹凸を測定可能です。 2. 測定データから、表面粗さを数値化できます 3. 表面積測定が可能です。 4. 特定位置の断面形状を測定できます。
