【半導体製造向け】図面から検査表自動作成システム
図面から寸法を自動抽出し検査表を自動作成、転記ミスを防止し作業時間を大幅短縮！
半導体製造業界、特にウェハー検査においては、微細な寸法や公差の正確な管理が製品の品質に直結します。 図面からの寸法情報の転記ミスや確認作業の煩雑さは、検査時間の遅延や品質低下のリスクを高める可能性があります。 「図面から検査表自動作成システム」は、これらの課題に対し、図面からの寸法自動抽出、検査表作成、そしてOK/NG判定までを一貫してサポートし、検査業務の効率化と精度向上に貢献します。 【活用シーン】 ・ウェハー製造における寸法検査 ・図面からの検査項目抽出 ・検査結果の自動判定 ・紙図面からの検査表作成 【導入の効果】 ・検査表作成にかかる作業時間を削減 ・転記ミスや入力ミスを防止し、検査精度を向上 ・図面と検査表の連動による確認作業の効率化 ・検査業務の標準化
基本情報
【特長】 ・DWG/DXFやPDF図面から寸法値、公差、コメントを自動抽出 ・AI×OCR技術で画像やPDF図面の寸法値を認識・抽出 ・計測値入力によるOK/NG判定を自動表示 ・Word、Excel、CSV形式での柔軟な出力に対応 ・自社テンプレートへの対応や既存システムとの連携が可能
価格帯
納期
用途／実績例
本製品の活用事例や導入効果については、アーカイブウェビナーをご覧ください。 ▶ アーカイブウェビナー視聴はこちら URL：https://sandx.seminarone.com/LpjSVv7aD0etWNW0dKYgDw/event ※内容は上部にあるアーカイブウェビナーと同様です。
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