ムラビューワー

ナノクラスの微細な変化も見逃さない！半自動で欠陥を判別して可視化することが可能

『ムラビューワーシリーズ』は検査の常識を変える「見えない・見えにくい」欠陥を「くっきり・鮮やかに」に確認できる新感覚のスコープです。ガラス・水晶・サファイア等の表面に残るナノサイズの微細な研磨痕・オレンジピール・スクラッチや内部にある微細な脈理・結晶欠陥等も、目視による検査・評価が可能になり、表面粗さの管理・研磨条件の設定、蒸着後の歩留まりが確実に向上します。

関連リンク - http://www.sanmei.co.jp/1105-2/

基本情報

・ムラビューワー２【特長】 ■反射体は表面欠陥、透過体は表面内部裏面欠陥の検査が可能 ■人の裸眼では確認できないnano欠陥を広視野で可視化 ■ズーム機能搭載（４倍比） ■複合立体画像処理+欠陥抽出処理で欠陥だけが立体的に浮き上がる ■目視検査装置・ムラビューワー２A-SS 【特長】 ■人の裸眼では確認できない欠陥を可視化し、独自の特殊原理を使い立体的に欠陥を浮き上げることで、精度よく欠陥検査を可能 ■特殊光学部を分離して自動搬送系に組み込める分離型構造 ■数値化処理を内蔵することで解析処理/完全自動化検査を実現 ■クリーンルーム対応 ■数値化検査装置・ムラビューワー２ TiL 【特長】 ■人の裸眼では確認できない欠陥を可視化し、ED原理を使って　立体的に欠陥を浮き上げることで、精度よく欠陥検査を可能 ■ムラビューワー２シリーズと自動タイリング機構の組み合わせで、　サンプルサイズからΦ300ｍｍまで観察視野拡大可能 ■広視野でnano欠陥の数値化マッピングが可能 ■数値化処理を内蔵することで解析処理/完全自動化検査を実現

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【用途】 ■可視化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ムラビューワーシリーズ

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私たちはこれまで、製紙・パルプ・自動車・自動車部品・半導体・液晶・スマホ等、時代の流れに敏感に対応しながら、お客様に最適なシステムインテグレーションの提案を行いたいとの思いを持ち挑み続けてきました。今後はこの考え方を継承しつつ、人々の生活に必要不可欠な「食品・医薬品・化粧品」の「三品業界」にも積極参入を進めます。また、半導体や高機能液晶といった成長が見込まれる分野では装置メーカーとして精密アライメント露光装置・検査装置やプロセス製造装置の開発と製品作りにも積極的に関わっていきます。

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