インライン検査での測定時間を短縮｜光学断層測定器 高速タイプ
散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に好適！
『IVS-2000-HS』は、高速測定が可能な中心波長1310nm帯の SS-OCTシステムです。 高速(100kHz)測定により、インライン検査等での測定時間を 短縮できます。 高軸方向分解能は18um未満(空気中)を実現しており、 高精度な断層測定が可能です。 【特長】 ■中心波長：1310nm ■A-lineレート：100kHz ■高軸方向分解能：18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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価格帯
納期
型番・ブランド名
IVS-2000-HS
用途／実績例
【主要用途】 ■高速計測が求められるインライン検査 ■溶接モニタリング ■冠動脈、内視鏡イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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santecは光産業において40年以上にわたり、お客様からの品質に対する厳格な要求にお応えしながら、光コンポーネント、レーザー製品及び光測定器を製造してまいりました。 また、常に革新を求め、お客様からの御要望にお応えすることを通じて、santecは、数々の新しい光関連製品を世に送りだしてまいりました。私共の経営理念である光の理想郷「OPTOPIA」の創造への歩みは、製品のコンセプトから商用化までのタイムスケジュールを最小限にする歩みでもあります。