光学特性検査システム
光学特性検査システム
当社製品を組合わせて光学特性を測定するコンプリートシステムの提供も行っております。 昨今、測定の高速化や高精度化が求められていますが、お客様のご要望に合わせシステム化を行いますのでお気軽にご相談ください。
1~7 件を表示 / 全 7 件
-

光学特性検査システム 『Swept Test System』
高速かつ高精度・高分解能で IL/WDL/PDL を評価可能!
最終更新日
-

インライン検査での測定時間を短縮|光学断層測定器 高速タイプ
散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に好適!
最終更新日
-

高低差のある測定物を一括で3次元測定|光学断層測定器
高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が可能!
最終更新日
-

散乱の強い対象物の測定に|光学断層測定器 高分解能タイプ
散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に好適!
最終更新日
-

平坦度を1 nmの精度で計測可能|ウエハ厚分布測定器
非接触で平坦度を1nmのくり返し精度で計測可能!
最終更新日
-

光学三次元測定器|OPS-1000
従来方式に比べ100倍以上の最小受光感度を持つ超高感度モデル!
最終更新日
-

光電融合デバイスの開発・評価に適したソリューション特集
SiPh/PIC開発を加速させる評価ソリューション
最終更新日