高低差のある測定物を一括で３次元測定｜光学断層測定器
高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が可能！
『IVS-2000-LC』は、深いイメージングレンジを持つ 中心波長1310nm帯のSS-OCTシステムです。 この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、 散乱の強い対象物の測定に適しています。 深いイメージングレンジ(空気中で18mm以上)により、 高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が 可能です。 【特長】 ■中心波長：1310nm ■A-lineレート：50kHz ■高軸方向分解能：18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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価格帯
納期
型番・ブランド名
IVS-2000-LC
用途／実績例
【主要用途】 ■深い測定レンジが求められるデバイス計測 ■歯、前眼部イメージング ■複合レンズ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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santecは光産業において40年以上にわたり、お客様からの品質に対する厳格な要求にお応えしながら、光コンポーネント、レーザー製品及び光測定器を製造してまいりました。 また、常に革新を求め、お客様からの御要望にお応えすることを通じて、santecは、数々の新しい光関連製品を世に送りだしてまいりました。私共の経営理念である光の理想郷「OPTOPIA」の創造への歩みは、製品のコンセプトから商用化までのタイムスケジュールを最小限にする歩みでもあります。