IEEE ITC-Asia 2023 企業ブース展示のお知らせ【The 7th IEEE International Test Conference in Asia 2023：半導体集積回路試験技術に関するアジア国際会議】

タカヤ株式会社

タカヤ株式会社は、「IEEE ITC Asia 2023」のオフィシャルパートナーとなりました。「IEEE ITC Asia 2023」とは、ICテスト分野で最大の国際会議である IEEE International Test Conference のアジア版です。 ICテストに関連する研究者・大学関係者等が集まり、基調講演・基調パネル討論・論文発表を通じ、世界中の学術界と産業界の間でより多くの議論と交流を促すことを目的とした会議です。今年のIEEE ITC Asia は 2023年9月12日(火)～14日(木)の3日間、島根県松江市のくにびきメッセで開催されますが、会場内にタカヤ株式会社の企業紹介ブース（パネル等）を展示頂けることとなりました。本会議へお越しの際は、是非タカヤのブースへも足をお運びください。

開催日時 2023年09月12日（火）～ 2023年09月14日（木）
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会場島根県立産業交流会館くにびきメッセ住所　〒690-0826 島根県松江市学園南1丁目2-1
参加費有料主催者ホームページより申し込みが必要です。

関連製品情報

フライングプローブテスタ：APT-1340J　＊評価テスト受付中
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

タカヤ株式会社公式サイト

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