JTAGテスト技術の最新動向がわかる！バウンダリスキャン公開研究会のご案内（9/25 オンラインセミナー）【産業機器事業部】

タカヤ株式会社

9/25（月）に開催される、バウンダリスキャン公開研究会（オンラインセミナー）にて、アンドールシステムサポート株式会社谷口様と、タカヤ株式会社柳田が共同で講演を行います。詳細は関連資料のPDFファイルよりご確認いただけます。皆様、是非ご視聴ください。＜基調講演＞　「チップレット時代における半導体パッケージ革命」　　Rapidus株式会社　専務執行役員　折井靖光氏＜講演１＞　「バウンダリスキャンによるチップレットのテストと評価」　　愛媛大学　亀山修一氏＜講演２＞　「フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査」　　アンドールシステムサポート(株)　谷口正純氏　　タカヤ(株)　柳田光輝＜講演３＞　「バウンダリスキャンテストとCAEの連携によるHALT試験におけるBGA信頼性評価」　　(株)先端力学シミュレーション研究所　前澤祐氏

開催日時 2023年09月25日（月）
13:30 ～ 16:50
オンライン研究会 (Zoom)
会場
参加費有料リンクより参加申し込みをお願い致します。

関連製品情報

フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストとの連携
ICTとBSTの相互補完によって、新たな価値を創造します。

営業担当までお問い合わせください。
フライングプローブテスタ：APT-1340J　＊評価テスト受付中
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

タカヤ株式会社公式サイト

JTAGテスト技術の最新動向がわかる！バウンダリスキャン公開研究会のご案内（9/25 オンラインセミナー）【産業機器事業部】

関連資料

関連製品情報

関連カタログ

フライングプローブテスタ APT-1340J/APT-1400F-SL

デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD