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東京理科大学共催 第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会のご案内

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タカヤ株式会社は、2024年3月13日（水）～15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されます 「第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会」のスポンサーになりました。 開催当日は 現地にて弊社社員による講演・会社紹介ブースを展示します。皆様のご来場をお待ちしております。（オンライン視聴も可能です） 【講演内容】 BGA実装基板検査の最新動向 JTAG バウンダリスキャンテストとフライングプローブテスタのハイブリッド検査 柳田幸輝・堀本亮貴・坂本祐哉　タカヤ株式会社 谷口正純　アンドールシステムサポート株式会社 実装基板の確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。 この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。 それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

  • 開催日時 2024年03月13日（水） ～ 2024年03月15日（金）
    ～
  • 会場 東京理科大学　野田キャンパス 〒278-8510 千葉県野田市山崎2641 オンライン併用開催
  • 参加費 有料 講演大会参加・オンライン視聴には主催者サイトからの事前登録が必要です。

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    業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中

    業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD

    上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL

    上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

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    営業担当までお問い合わせください。

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