タカヤ株式会社 公式サイト

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

FPGA等へのプログラム書き込みや、BST等の特殊性能検査をフライングプローブテスタで対応可能

タカヤは、日本を代表するフライングプローブテスタのメーカーとして、世界各国で高い評価をいただいています。その活躍の場は、家電業界だけではなく、高い品質基準を求められる医療機器業界や自動車業界、また参入障壁の非常に高い航空・宇宙産業など幅広い分野にわたっております。

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

・検査対象基板のサイズによって、コンベア幅を自動変更 ・検査状況をメールで自動通知 ・OPC UA規格に対応したITシステムとの相互連携 ・大型長尺基板を複数のセクションで分割検査 　（検査可能最大サイズ：985x610mm） など、様々な拡張オプションもございます。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。

【1/24～ ネプコン2024出展！】産業用機器とMESシステムとの相互接続性を実現！

こちらの展示会にて上記デモを出展します。ぜひ実物をご確認ください。 【開催展名】第38回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展- 【会期】2024年1月24日[水]～1月26日[金] 【時間】10:00～17:00 【会場】東京ビッグサイト 【主催】RX Japan株式会社

直感的にわかりやすい操作で、オペレータの負荷低減・検査効率アップに貢献

ODB++とは「Open Data Base」の略で、基板設計用CADから出力されるデータ形式のひとつです。 基板設計と実装業者のやり取りに必要な情報をすべて含んでおり、これ単体で基板を製造することができます。情報の不足や、認識違いによる不具合が起こりません。フォーマットの仕様は一般公開されており、自由に使うことができるため対応するCADソフトは増加し、多くの基板製造メーカーが採用しています。