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第36回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展-に出展致します。【e-招待券ダウンロード可能です（＊無料）】

タカヤ株式会社

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弊社では、広く皆様に高性能フライングプローブテスタのご案内を申し上げるべく、アジア最大級のエレクトロニクス開発・実装展「ネプコン ジャパン」に出展する運びとなりました。 弊社ブースでは、上面4軸/下面2軸の同時コンタクトで基板裏表の同時検査に対応する「APT-1600FD」を国内初出展し、実際の検査性能を確認いただけます。 ご多用の折とは存じますが、何卒ご来場賜りますようご案内申し上げます。 第36回 ネプコンジャパン https://www.nepconjapan.jp/ 展示会名　 ： 第36回 エレクトロテスト ジャパン -エレクトロニクス検査・試験・測定展- 弊社小間番号： 東3ホール　17-54 弊社出展製品： デュアルサイドフライングプローブテスタ「APT-1600FD」　 　　　　　　　 フライングプローブテスタ「APT-1640J」

  • 開催日時 2022年01月19日（水） ～ 2022年01月21日（金）
    10:00 ～ 18:00
    (最終日のみ17:00まで)
  • 会場 東京ビッグサイト
  • 参加費 無料 リンク先より無料のe-招待券をダウンロードしてください。※お一人様一枚必要。人数分プリントアウトして頂くか、画面をお見せください。 　※招待券をお持ちでない場合、入場料5,000円/人 がかかります。

関連製品情報

  • デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD

    上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL

    上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • フライングプローブテスタ：APT-1340J　＊評価テスト受付中

    業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

  • フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中

    業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

    電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板（基板）に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを　インサーキットテスト（ICT）、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

関連カタログ

デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD

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フライングプローブテスタ APT-1340J/APT-1400F-SL

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