フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD
【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞!】【第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 受賞!】
タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、 限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、 検査精度と効率への要求はますます高まっています。 当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、 こうした業界ニーズに応え、業界最高クラスの技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。 新モデルの主な特長 1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計 2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構 3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ 4,リモートカメラ 5,検査プロープの自動クリーナー(オプション) 6,温度センサー(オプション) 7,ユニバーサルデザイン 8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途/実績例
●一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下 「JIEP」)が顕彰する「技術賞」を受賞しました。 同賞は、JIEPが実装技術の発展・教育などに関する業績や貢献を顕彰する賞の一つで、 主に エレクトロニクス実装技術の発展に顕著に寄与した技術に対して授与される賞です。 ●電子機器トータルソリューション展2025にてJPCA賞 奨励賞を受賞しました。 JPCA賞は、電子回路技術および関連産業の発展に寄与する優れた製品・技術を顕彰する制度で 同工業会が主催する展示会「JPCA Show 2025」の出展者を対象に実施されています。 ●第55回 機械工業デザイン賞 IDEAで 日刊工業新聞創刊110周年記念賞 を受賞しました。 同賞は、日刊工業新聞社が主催し、日本の工業製品におけるデザインの振興と発展を目的に1970年に創設されました。 製品の機能や外観だけではなく、市場性や社会性、安全性など、さまざまな面から総合的な審査が行われるデザイン賞です。 審査委員会は関係省庁や大学、各工業団体の専門家などで構成され、今年で55回目を迎えます。
関連動画
ラインアップ(4)
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| APT-2400F | 標準モデル 上面4軸 |
| APT-2400F-SL | 大型モデル 上面4軸 |
| APT-2600FD | 両面標準モデル 上面4軸/下面2軸 |
| APT-2600FD-SL | 両面大型モデル 上面4軸/下面2軸 |
カタログ(9)
カタログをまとめてダウンロードこの製品に関するニュース(21)
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「LINX DAYS 2025」にて弊社事例が紹介されます。
このたび、株式会社リンクス様が主催する技術イベント 「LINX DAYS 2025」 において、タカヤ株式会社の取り組みが ユーザー事例の一つとして紹介されることとなりました。 「LINX DAYS」は、マシンビジョン・産業用カメラ・3Dセンサー・ロボティクス・AIなど、製造業の高度化・自動化を支える最先端技術をテーマに、国内外の先進企業による講演や事例紹介が行われる技術イベントです。製造業に携わる多くの技術者・開発者・経営層の皆様が参加され、業界の最新動向や実践的なソリューションに触れる貴重な機会となっております。 今回、「HALCON導入による超高速フライングプローブテスタの付加価値向上」をテーマに、画像処理ライブラリ「HALCON」の活用によって、弊社のフライングプローブテスタがどのように進化し、検査工程のさらなる高精度化・高速化を実現したか について取り上げていただく予定です。 製造現場における品質向上や検査自動化に取り組まれている皆様にとって、有益な情報となれば幸いです。
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当社技術論文が『検査技術 2025年10月号』に掲載されました。
このたび、月刊誌『検査技術』(日本工業出版)2025年10月号に、当社の最新技術に関する論文が掲載されました。 掲載記事: 『新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの最新動向』 著者:タカヤ株式会社 産業機器事業部 柳田 幸輝 本稿では、高速・高密度化が進むプリント回路板に対応するための最新フライングプローブテスタの技術革新、JTAG連携やZEROインパクト技術の導入事例について解説しています。
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エレクトロニクス実装学会誌に論文を掲載頂きました。
当社論文を 一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下、「JIEP」)発行「エレクトロニクス実装学会誌」Vol.28 No.6(2025年9月号)に掲載頂きました。 掲載論文 「超高速フライング式プリント回路板検査機の開発」 (英題:Development of an Ultra-High-Speed Flying Probe Tester for PCB Assembly Inspection) 著者:柳田 幸輝 論文概要 本論文では、従来の治具式インサーキットテストの課題である高コスト・微細部品へのアクセス困難を解決するために開発した 超高速フライングプローブテスタの新技術について報告し、次世代の高密度実装基板検査における新たな基準を提案しています。
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i-PRO株式会社様公式ウェブサイトに当社事例をご掲載いただきました。
このたび、i-PRO株式会社様の公式ウェブサイトにて、タカヤ株式会社の事例をご紹介いただきました。 当社では、フライングプローブテスタの開発において、装置内部の状況を遠隔から把握し、トラブル発生時の初動対応を迅速化する仕組みの構築を課題としておりました。 この課題を解決するため、最新モデルであるAPT-2400FおよびAPT-2600FDには、i-PRO株式会社製ネットワークカメラを標準搭載しています。 カメラの搭載により、装置内部の状態をリアルタイムで監視できるため、トラブル対応の迅速化や、検査工程における品質管理の高度化を実現しました。 今回の事例では、 カメラ標準搭載に至った背景 製品選定の理由 運用上の工夫 搭載による効果 について、開発担当者の視点から詳しくご紹介いただいております。 ぜひ以下のリンクよりご覧ください。
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MES2025 第35回 マイクロエレクトロニクスシンポジウム 企業展示のご案内(大阪大学 中之島センター)
タカヤ株式会社は、2025年9月3日(水)~5日(金)の3日間、 大阪府大阪市の 大阪大学 中之島センター にて開催される 『MES2025 第35回マイクロエレクトロニクスシンポジウム』に企業展示を行います。 タカヤでは、フライングプローブテスタ APTシリーズに関するパネルを展示する予定です。 本シンポジウムは、電子機器の実装技術に関する最新の研究成果や業界動向が集まる貴重な場です。 ご来場の際はぜひ、タカヤのブースへお立ち寄りください。 皆さまのご来訪を心よりお待ちしております。









































