フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD
【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞!】【電子機器トータルソリューション展2025出展 JPCA賞受賞!】
タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、 限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、 検査精度と効率への要求はますます高まっています。 当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、 こうした業界ニーズに応え、業界最高クラスの技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。 新モデルの主な特長 1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計 2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構 3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ 4,リモートカメラ 5,検査プロープの自動クリーナー(オプション) 6,温度センサー(オプション) 7,ユニバーサルデザイン 8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途/実績例
●エレクトロニクス実装学会 技術賞受賞 2025年5月、一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下、「JIEP」)が顕彰する「技術賞」を受賞しました。 同賞は、JIEPが実装技術の発展・教育などに関する業績や貢献を顕彰する賞の一つで、 主に エレクトロニクス実装技術の発展に顕著に寄与した技術に対して授与される賞です。 ●展示会出展、JPCA賞受賞 【電子機器トータルソリューション展2025】 2025年6月4日(水)~6日(金) 東京ビッグサイト 小間番号:4A-06 *2年連続、JPCA賞受賞しました!「新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの開発」 6月4日(水)16:40~17:00、7ホール セミナー会場C にて、アワード表彰式が開催されます。
関連動画
ラインアップ(4)
型番 | 概要 |
---|---|
APT-2400F | 標準モデル 上面4軸 |
APT-2400F-SL | 大型モデル 上面4軸 |
APT-2600FD | 両面標準モデル 上面4軸/下面2軸 |
APT-2600FD-SL | 両面大型モデル 上面4軸/下面2軸 |
カタログ(9)
カタログをまとめてダウンロードこの製品に関するニュース(15)
-
デュアルサイドフライングプローブテスタ「APT-2600FD」が「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」で 日刊工業新聞創刊110周年記念賞 を受賞しました。
「APT-2600FD」は、基板の導通や抵抗値などを高精度に検査するインサーキットテスタです。高速駆動する接触プローブを用いた「フライングプローブ式」テスト技術は、タカヤが世界で初めて開発し、世界トップクラスのシェアを誇ります。 本製品は10年ぶりのモデルチェンジを経て 基板損傷を防ぐ高度な制御機能や高解像度画像検査システムなど、最新技術を多数搭載。精度と効率の両立を実現し、品質保証の新たなスタンダードを築いています。 今回の受賞は、当社の技術力とデザインが高く評価された証であり、さらなる技術革新への励みとなります。 本製品の開発・製造・導入にご尽力いただいた関係者の皆様、そして審査に際し貴重なご意見とご評価を賜りました審査員の皆様に、心より御礼申し上げます。 「機械工業デザイン賞 IDEA」について 1970年に日刊工業新聞社が創設した、日本の工業製品におけるデザイン振興を目的とした賞です。製品の機能・外観に加え、市場性・社会性・安全性など多角的な視点から審査されます。審査委員会は関係省庁、大学、工業団体の専門家で構成され、今年で第55回を迎えました。
-
当社製品「APT-2600FD」紹介記事が EE Times Japan に掲載されました。
このたび、当社が「JPCA Show 2025」にて出展した フライングプローブ式インサーキットテスター「APT-2600FD」が、エレクトロニクス専門メディア「EE Times Japan」にて紹介されました。 本製品は、第21回 JPCA賞(アワード)奨励賞を受賞 しており、展示会でも多くの注目を集めました。記事では、製品の特長や技術的な優位性について詳しく取り上げられています。下記、関連リンクよりご覧ください。 今後もタカヤは、先進的な検査技術の開発を通じて、ものづくりの品質向上に貢献してまいります。
-
電子機器トータルソリューション展2025 に出展します。
平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。 タカヤ株式会社は 2025年6月4日(水)~6日(金) 東京ビッグサイトで開催される『電子機器 トータルソリューション展2025』に出展します。 出展製品のご紹介 産業機器事業部より フライングプローブテスタの新モデル APT-2600FD-A を展示します。APT-2600FD-A は、高密度実装基板の検査に対応した業界最高クラスのプロービング精度を誇る 画期的な検査装置です。独自の制御機構とセンシング技術により、あらゆる環境下で信頼性の高い電気検査を実現します。 また、 RF事業部/ソリューション事業部より、「RFIDで製造業DXの未来を創る」課題解決のための最新ソリューションを展示します。 皆様のご来場をお待ちしております。
-
フライングプローブテスタが エレクトロニクス実装学会「技術賞」を受賞しました。
タカヤ株式会社のフライングプローブテスタが、一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下、「JIEP」)が顕彰する「技術賞」を受賞しました。同賞は、JIEPが実装技術の発展・教育などに関する業績や貢献を顕彰する賞の一つで、主に エレクトロニクス実装技術の発展に顕著に寄与した技術に対して授与される賞です。 受賞者 : 柳田 幸輝 山本 昌裕 受賞技術 : 超高速フライング式プリント回路基板実装検査機の開発 このたび、当社のフライングプローブテスタが「技術賞」という栄誉ある賞をいただけたことを、社員一同、心より光栄に存じます。本技術の開発に携わったすべての関係者の努力と情熱、そして日頃よりご支援いただいているお客様・パートナーの皆様に深く感謝申し上げます。 タカヤ株式会社は、今後も「ものづくりの現場に革新をもたらす技術」を追求し、エレクトロニクス実装分野のさらなる発展に貢献してまいります。
-
「第21回 JPCA賞(アワード)」奨励賞 受賞のお知らせ
タカヤ株式会社は、「新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの開発」において、その技術的独自性と将来性が高く評価され、一般社団法人 日本電子回路工業会が主催する「第21回 JPCA賞(アワード)」において 奨励賞を受賞いたしました。 JPCA賞(アワード)は、電子回路技術および関連産業の発展に寄与する優れた製品・技術を顕彰する制度であり、同工業会が主催する展示会「JPCA Show 2025(電子機器トータルソリューション展2025)」の出展者を対象に実施されています。 本賞では、応募された技術・製品に対し『独創性(独自性・オリジナリティ)』、『産業界での発展性・将来性』、『信頼性』、『時世の適合性』といった観点から、学術界・電子回路業界・専門誌編集者などの有識者で構成される選考委員会による厳正な審査が行われます。2005年の創設以来、JPCA賞は電子回路分野における技術革新と産業振興を目的として継続的に実施されており、2025年は 5件の優れた技術・製品が「第21回 JPCA賞(アワード)」として選出されました。当社は昨年に続き、2年連続での受賞となります。