SPEA社 パワー半導体向けテスター
SPEA DOT800T パワーデバイス用電気特性検査システム
SPEA社製パワーデバイス用電気特性検査システム DOT800Tは、パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応するオールインワンテスタです。 ウェーハレベル、チップレベル、DBC/AMBレベル、最終パッケージレベルのテストまで、あらゆるパワーデバイス・アプリケーションでのISO、AC、DCテストがDOT800Tで実施可能です。 DOT800Tは、従来のシリコンデバイス（Siデバイス）だけでなく、窒化ガリウムデバイス(GaNデバイス)およびシリコンカーバイドデバイス(SiCデバイス）のテストにも対応しており、高電圧・高電流出力モジュール、高周波および低電流測定機能で、それらのテスト・測定範囲をカバーします。 品質と信頼性を保証するために、完全で正確な動的テスト(ACテスト)、静的テスト(DCテスト)、および絶縁テスト(ISOテスト)シーケンスを使用して、実際の利用条件下での正しいデバイス動作が検証されます。 これら全ての機能が量産環境向けに設計され、高スループットのモジュール式でフレキシブルな構成を実現するテスターです。
基本情報
・パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応 ・ウェハ、ディスクリート（Si、SiC、GaN）、IPM、DBC、AMB、IGBTモジュールに対応 ・全てのパワーデバイス・アプリケーションに対応した高電圧・高電流出力モジュールを選択可能 ・25nH以下の寄生インダクタンス（配線インダクタンス）、過電圧は常にブレークダウン電圧以下 ・マルチ・コアテスト構造により、ISO、DC、ACの個別テストステーションで並列、非同期テストモードに対応
価格情報
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納期
型番・ブランド名
SPEA社 パワー半導体テスター DOT800T
用途／実績例
・EV、HEV用パワーデバイステスト ・民生用パワーデバイステスト ・SiCウェハ―テスト ・SiCチップレベルテスト（KGD）
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ラインアップ（1）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| DOT800T | パワーデバイス特性検査システム |
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