ナノフォーカス 3次元X線CTシステム XVA-160RA
ナノフォーカス 3次元X線CTシステム XVA-160RA
ナノフォーカス 3次元X線CTシステム XVA-160RAについて
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3次元X線CTシステム『XVA-160RA』
ハイエンドのX線源を搭載し、高度な解析を実現 フォーカスサイズ切り替え対応(250nm/800nm)×最大倍率1,600倍
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3次元X線CTシステム『XVA-160RA/160αII“Z”』
独自技術「ユーセントリック機構」で高倍率観察を簡単に実現。実装基板や 半導体デバイスの不具合の発見・解析を支援します。
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【X線測定技術】ユーセントリック機能
着目ポイントを逃さない!ディテクタ傾斜時、拡大時、ステージ回転時もサンプルを中央に捉え続けます
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【X線測定技術】3次元斜めCT
斜め方向からの撮影で大型基板も破壊することなく断層撮影!高い操作性も実現しました
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【X線測定技術】コーンビームCT
アスペクト比の少ない小型部品単体の解析に好適!精密・鮮明な断層撮影ができます
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