3次元X線CTシステム『XVA-160RA』

ハイエンドのX線源を搭載し、高度な解析を実現 フォーカスサイズ切り替え対応(250nm/800nm)×最大倍率1,600倍

最終更新日 2025年12月02日

3次元X線CTシステム『XVA-160RA／160αII“Z”』

独自技術「ユーセントリック機構」で高倍率観察を簡単に実現。実装基板や 半導体デバイスの不具合の発見・解析を支援します。

最終更新日 2025年01月27日

【Ｘ線測定技術】ユーセントリック機能

着目ポイントを逃さない！ディテクタ傾斜時、拡大時、ステージ回転時もサンプルを中央に捉え続けます

最終更新日 2023年08月18日

【Ｘ線測定技術】3次元斜めCT

斜め方向からの撮影で大型基板も破壊することなく断層撮影！高い操作性も実現しました

最終更新日 2023年08月18日

【Ｘ線測定技術】コーンビームCT

アスペクト比の少ない小型部品単体の解析に好適！精密・鮮明な断層撮影ができます

最終更新日 2023年08月18日