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ウェハ受入(WAT)並列パラメトリックテスタ『PPT8200』
Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50％以上高いスループットを実現！
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シリコンフォトニクスウェーハテストシステム『SWT5100』
8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム！
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高精度ベンチトップSMU『B2031＆B3031』
コンパクトでコスト効率に優れた4チャネル/8チャネルのデスクトップ型精密ソース/メジャーユニット！
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高精度ベンチトップSMU『B0201＆B1201』
コンパクトでコスト効率の高いシングル/デュアルチャネルのベンチトップ型SMU！
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PCIe高速ケーブルBERT『B6064C』
最大64レーン(128差動ペア)の高密度試験に対応！
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1.6Tビットエラーレートテスタ『B3224』
PAM4/NRZ信号に対応し1.6TBASE/CEI-224G規格をカバー！
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65 GHzサンプリングオシロスコープ『DCA6065』
1.6T/800G/400Gの超高速光信号のアイパターン試験をサポート！
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YONATA ELECTRONICS 製品紹介【※展示会出展】
先端半導体に対応したテストソリューションを提供！DCAからWATまで全7製品を掲載！主要仕様やシリーズ構成がわかる一冊です
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