株式会社アナリティクイエナ ジャパン 公式サイト

ICP-OES,ICP-MS,原子吸光分析の前処理に！ ルーチンから難分解性試料まで幅広いアプリケーションに対応！

リアルタイムの温度と圧力モニタリングをすべての容器で実現し、分解後は容器が個別に取り出せます。 容器は最大 10000 回という驚異的な耐久性があり、光学的圧力・温度制御による高い容器保護能力はサンプル前処理においてランニングコストの低減が可能です。 電磁制御スイベル式ドア装備の耐圧オーブンは酸蒸気漏れのない統合排気システムを装備しています。 オーブンは常時ベンチレーションされています。突発的な温度上昇リスクを低減するために、圧力と温度をモニタリングすることが非常に重要です。内部容器の常時モニタリングや異常発熱時の強制停止機構が安全性を担保します。 タッチスクリーンとラップトップPCなどのモバイル機器から操作できます。 speedwave XPERTソフトウェア　―　プリインストールされた標準ソフトウェアが付属 21 CFR part 11用ソフトウェアもございます。 ＊詳細は、お問い合わせください。

簡単操作のベーシックなD2補正の原子吸光分析装置

■ランプ：ホロカソードランプ8本　 ■測光方式：ダブルビーム光学系　 ■波長範囲：185~900 nm　 ■バックグラウンド補正：D2補正 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に！

■ランプ：ホロカソードランプ8本　 ■測光方式：ダブルビーム光学系　 ■波長範囲：185~900 nm　 ■バックグラウンド補正：磁場強度可変交流ゼーマン補正またはD2補正

1本のランプで全ての元素の測定が可能！近接線の影響も視覚的に確認できる革新的な原子吸光分析装置

■ランプ：キセノンランプ　 ■波長範囲：185~900 nm　 ■バックグラウンド補正：キセノン連続光源補正　 ■検出器：半導体検出器（CCD）

0.002nmの高分解能！ 分光干渉の問題を解決　リニアアレイCCD検出器搭載で高感度分析も実現

【測光方向】デュアルビュー（アキシャル・ラジアル） 【分光器】エシェルダブルモノクロメーター 【波長範囲】160～900nm 【検出器】リニアアレイCCD