JTAGテスト 基板検査ツール
JTAGテスト 基板検査ツール
BGAのはんだ不良を簡単に見つけることができる 世界トップクラスのJTAGバウンダリスキャン・テスト装置の販売とサポートを提供します。
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[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール
基盤毎のテスト治具開発不要。実装基板テストツール
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ボード検査システム『JTAG ProVision』
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
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【導入事例】基板実装の検査工程でJTAGテストを導入
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
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【導入事例】LTE測定器の検査にJTAGテストを採用
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
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【導入事例】JTAGテストと生産ラインのFA化を実現
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
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【導入事例】実装基板の検査にJTAGテストを採用
BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上！
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【導入事例】車載機器の品質向上のためにバウンダリスキャンを採用
高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現！
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【導入事例】JTAGテストを採用してBGA実装の品質保証を実現
BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
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【導入事例多数掲載！】ボード検査システム『JTAGテスト』
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
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[BGA対応！実装基板テスト] JTAGテスト
JTAGバウンダリスキャンテストの導入事例を公開しています！
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