ガラス基盤外形検査装置『PSI-50』
簡単操作!高精度に測定する検査装置!
『PSI-50』は、小型ガラス基盤やパネルの外形形状検査を高精度に測定が可能な 検査装置です。 外形寸法(最大幅)/バリ検出/欠け検出/切断ズレ検査や、 ガラス流し込み部の寸法測定が可能です。 また測定MAP表示機能、画像保存等を搭載しており、またパネル角度の 自動補正機能によりワークを検査ステージに置く際に角度を正確に 合わせる必要はありません。 範囲は設置すれば、自動的に角度を補正します。 置いた角度が大きすぎると測定精度に影響が出ますので、警報を表示する仕様に なっています。 【特長】 ■測定MAP表示機能搭載 ■画像保存機能搭載 ■自動補正機能付き ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【検査項目】 ■外形寸法 ・基準値 ・バリ ・外形の凸幅と高さ ・欠け ・外形の凹 ■ガラス剥離 ・クラック ・切断ズレ ・ガラス流し込み部の幅 ・高さ測定パターン切れ(端子キズ) ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ(2)
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弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。