Dual PHEMOS-X エミッション顕微鏡
高解像度エミッション顕微鏡
Dual PHEMOS-Xは、半導体のウェーハやダイの状態で、両面（表面及び裏面）からの故障解析が求められる先端3次元デバイスにおいて、各種解析が可能な高解像度エミッション顕微鏡です。
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納期
型番・ブランド名
C16506-01
用途／実績例
半導体製造関連機器
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