第39回ネプコンジャパン
株式会社日本レーザー
◀出展予定品▶ 装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor（Sensofar Metrology社） AR導光板グレーティング解析システム WG-GAT（OptoFidelity社） R&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム WG-IQ（OptoFidelity社） 基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ（Lumina Instruments社）
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開催日時 2025年01月22日（水） ～ 2025年01月24日（金）
- 会場 東京ビッグサイト 東展示棟 小間番号：E14-36
- 参加費 無料 事前登録制