【試験事例】JIS Z 0232 振動試験
![[IEC 60068] 環境試験方法 ー 電気・電子](https://image.mono.ipros.com/public/premium/image_category/c71/311997/IPROS53668024061743435796.gif?w=140&h=140){kind=small}
![[製品試験] 正弦波衝撃試験](https://image.mono.ipros.com/public/premium/image_category/c71/311997/IPROS1392131611788046968.PNG?w=140&h=140){kind=small}
試験レベルや加振時間についてはJIS Z 0200試験方法一般通則を参照の上選定します
『JIS Z0232（振動試験方法）』は包装貨物が流通過程において受ける 振動に対する内容品または包装の耐振性を評価する為の試験方法です。 当社では包装された製品に対する様々な規格に準拠した振動試験や 製品自身の共振点を探査する正弦波共振点検出振動試験、製品強度を 確認する為の耐久性試験など、多様な目的で実施しています。 試験をご希望の際はぜひ当社へご相談下さい。 【振動条件】 ◇ランダム振動試験 ・加速度実行値：0.604Grms ・周波数：2-200Hz ◇正弦波掃引振動試験 ・加速度：7m/s2 ・周波数：3-100Hz ・掃引速度：1/2oct/min
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この製品に関するニュース（2）
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ウエハーアニール装置【ANNEAL】Max1000℃ APC自動圧力制御 MFC x3系統 Φ4〜6inch基板対応
Max1000℃、MFC最大3系統、APC圧力制御、4"〜最大6"基板対応、 高真空アニール装置（<5 × 10-7 mbar） [ANNEAL]は、ウエハー等の基板を安定したプロセス雰囲気にて高温熱処理が可能な研究開発用アニール装置です。 高真空水冷式SUSチャンバー内に設置した加熱ステージにより最高1000℃までの高温処理が可能です。チャンバー内にはヒートシールドが設置されインターロックにて安全を確保。マスフローコントローラは最大3系統まで増設が可能、精密に調整されたプロセスガス圧力での焼成作業が可能です（APC自動プロセス制御システムオプション）。 又、フロントビューポート、ドライスクロールポンプ、特殊基板ホルダー、熱電対増設、などオプションも豊富。 チャンバー内加熱ステージは、プロセスガス雰囲気・処理温度により３種類のバリエーションがあります。 ・ハロゲンランプヒーター：Max500℃ ・C/Cコンポジットヒーター：Max1000℃（真空中、不活性ガスのみ） ・SiCコーティングヒーター：Max1000℃（真空、不活性ガス、O2）
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□■□■【Mini-BENCH 】超高温卓上型実験炉 Max2000℃ □■□■
卓上小型サイズ実験炉・省スペース 最高使用温度2000℃ ◆装置構成◆ 予算・目的に応じてご要望の構成をご提案致します。 (A)最小構成：チャンバー + 温度制御ユニット (B)上記最小構成(A) + 真空排気系（ポンプ、ゲージ、バルブ・真空配管類） ◉ 円筒状ヒーター：るつぼ内サンプル焼成（固形物、粉体、粒形、ペレット形状サンプル用） ◉ 面状ヒーター：Φ1"〜Φ6"ウエハー、小片チップ焼成用 ◆基本仕様◆ ・ヒーター：C/Cコンポジット(カーボン炉）, タングステン(メタル炉) ・断熱材：グラファイトフェルト材, タングステン/モリブデン ・温度制御：プログラム温度調節計、C熱電対 ・到達真空度：1x10-2Pascal（*但し空炉の場合） ・電源仕様：AC200V 50/60HZ 三相 6KVA ・冷却水：3L/min, 0.4Mpa 25〜30℃ ◆コントロールボックス仕様◆ ・プログラム温度調節計 ・DC電源装置、又は外付トランスボックス ・電流、電圧計 ・ヒーター回路トリップSW ・主電源SW ◆オプション◆ ・真空排気系 ・特注るつぼ他
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【MiniLab-WCF 超高温ウエハーアニール炉】Max 2000℃_ウエハー高温焼成専用（6inch〜8inch）
Max2000℃ Φ6〜8inchウエハー専用高温アニール装置 小規模生産も可能なマルチ雰囲気ウエハーアニール装置 ◾️ Max2000℃ ◾️ 有効加熱範囲：Φ6〜Φ8inch 枚葉式、又はバッチ式（多段5枚カセット） ◾️ ヒーター制御：1ゾーン、又は2ゾーン（カスケード制御） ◾️ ヒーター材質： ・C/Cコンポジット：Φ6〜Φ8inch ・PGコーティング 高純度グラファイト：Φ6〜Φ8inch ◾️ 使用雰囲気： ・真空（1x10-2Pa）、不活性ガス（Ar, N2） ◾️ PLCセミオート運転 ・真空/パージサイクル、ベントの自動シーケンス制御 ・フルオート自動運転（オプション） ・タッチパネル操作、操作が分散せず一元管理が可能です。 ◾️ プロセス圧力制御 ・APCコントロール（MFC流量、又は自動開度調整バルブ PIDループ制御） ・MFC最大3系統流量自動制御、又はフロートメーター/ニードルバルブの手動調整 ◾️ PLOT画面グラフ表示、CSVデータ出力
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【MiniLabフレキシブル薄膜実験装置】カタログを一新しました！
この度、MiniLabシリーズ薄膜実験装置のカタログを一新しました。 【MiniLabシリーズの特徴】 ◉スパッタ、蒸着（抵抗加熱・有機・EB）、アニール、プラズマエッチング等に対応 ◉モジュラー式 フレキシブルにコンポーネントの組合せを構成（ソース複合型、マルチチャンバーも可能） ◉コンパクト、省スペース設計（幅1,200 x 奥行560mm） ◉優れた操作性：直感的インターフェイス、操作が分散せず全てをタッチパネルで一元管理できます。 研究開発の現場で、必ずやお役に立てるものと確信しております。 ぜひご検討ください。
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【MiniLab】 蒸着/スパッタ・デュアルチャンバーシステム
2台の薄膜実験装置をロードロック機構で連結。異なる成膜装置（スパッタ - 蒸着、など）をロードロックでシームレスに連結。Moorfield社独自のロードロックシステムにより、左右・後方へのプロセス室への連結も可能（写真下）。 1. MiniLab-E080A（蒸着装置） ・EB蒸着:7ccるつぼ x 6 ・抵抗加熱蒸着 x 2 ・有機蒸着限 x 2 2. MiniLab-S060A（スパッタリング装置） ・Φ2"マグネトロンカソード x 4源同時スパッタ ・DC, RF両電源対応 3. Load Lockチャンバー ・プラズマエッチングステージ ロードロック室では「RF/DC基板バイアスステージ」による基板表面のプラズマクリーニング、又、同社独自の『ソフトエッチング』技術による<30W 低出力・ダメージレスプラズマエッチングステージも搭載可能。2D（PMMA等のレジスト除去など）、グラフェン剥離、又、テフロン基板などのダメージを受けやすい繊細なエッチングプロセスも可能。（*メインチャンバーステージへも搭載可能です）
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アップデート：JIS Z 0232 振動試験の事例集
JIS Z 0232 振動試験事例集（詳細説明、画像イメージあり）をアップデートいたしました。 ・関連リンクの「JIS Z 0232 振動試験」をご参照ください。 JIS Z 0232（包装貨物－振動試験方法）の概要： ・JIS Z0232 （振動試験方法）は包装貨物が流通過程において受ける振動に対する内容品または包装の耐振性を評価する為の試験方法です。 ・この規格ではランダム振動試験と正弦波掃引振動試験の両方を規定していますが、ランダム振動試験が実際の輸送環境を最も的確に再現する方法であると記されています。従って試験装置が利用できる場合には、ランダム振動試験を優先して適用する事が望ましいです。 ・試験レベルや加振時間については、JIS Z 0200 試験方法一般通則を参照の上選定し、振動試験を行います。
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アップデート：JIS Z 0202 落下試験の事例集
画像および詳細説明のJIS Z 0202 事例集をアップデートいたしました。 ・関連リンクの「 JIS Z 0202 落下試験」を参照ください。 JIS Z 0202 試験の概要： 落下試験方法を規定している規格です。試験方法は自由落下試験機による「垂直自由落下試験」、等価落下試験機による「等価落下試験」、クレーンによる「片支持りょう落下試験」の3 通りです。
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取り扱い会社
日本ビジネス ロジスティクス株式会社（JBL）は、2007年まで日本アイ・ビー・エム株式会社（IBM）の100％出資の物流子会社として事業展開してまいりましたが、2008年1月4日の株式譲渡実行日を経て、安田倉庫株式会社（YASDA）の関連会社として新たに出発いたします。 全ての従業員とともに、IBM 関連ビジネスで培ってきた専門技術やスキル・ノウハウを基に、お客様や取引先様に対して、効率的かつ迅速なサプライ・チェーンの実現のために、最も信頼される良きパートナーとなることを願っています。同時に、思いやりと信頼に基づく企業風土を創出していき、皆様のご期待に積極的に応えていきたいと考えております。