X線分析顕微鏡＜10μmおよび100μmのX線プローブ搭載＞
微小部の分析や広範囲のマッピング分析に対応しています！
当社に設置している「X線分析顕微鏡」についてご紹介します。 内蔵カメラにより試料を観察し、任意の位置で元素(11Na～92U)の 定性・半定量分析を行うことが可能です。 10μmおよび100μmのX線プローブを搭載しており、マッピング分析と 同時にX線透過像の取得も可能です。 【分析に必要な試料】 ■微小な異物(数mm)から部品サイズ(数10cm)まで分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【主な応用範囲】 ■プリント基板上の微小異物分析 ■樹脂中異物の非破壊分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【分析事例(メモリーカードの元素マッピング)】 ■X線透過像 ■Ni ■Cu ■Au ■Br ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み