X線回折分析＜多様なニーズに対応可能＞
化合形態の定性分析や極点測定による配向性評価など、多様なニーズに対応可能！
当社が行っている「X線回折分析」についてご紹介します。 X線回折装置は、物質にX線を照射することで生じる回折現象を利用し、 物質の結晶構造の分析を行います。物質を構成する原子の種類や 配列に関する情報から、化合形態の定性分析や定量分析、さらには 結晶状態の評価が可能です。 当社のX線回折装置は各種アタッチメントを備えており、二次元検出器を 用いた微小部測定、薄膜試料の分析、極点測定による配向性評価など、 多様なニーズに対応可能です。 【分析に必要な試料】 ■微量の粉末試料や数mm程度の金属片等があれば定性分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【主な応用範囲】 ■結晶性化合物の定性分析、結晶の格子間距離の測定 ■残留オーステナイトの定量、残留応力測定、極点測定による配向性評価等 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【分析事例(腐食部の化合物同定)】 ■塩酸環境下で腐食が進行した銅板表面を分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み